描述

本实验装置设计了一个微电流源来用作PN结的正向电流，通过调节微电流源来获得PN结两端的正向压降，这样可以有效避免测量微电流的不稳定，还能准确地测量正向压降。并配置了一套温度控制装置，从而得到不同温度下的PN结的伏安特性曲线，研究PN结电压、电流和温度之间的关系，从中得到玻尔兹曼常数k、灵敏度S和硅材料的禁带宽度。

实验原理

半导体PN结的物理特性是半导体物理学的重要基础内容。利用本实验的仪器，可研究PN结扩散电流与电压的关系，了解此关系遵循指数分布规律，并可较准确地测出物理学重要常数——玻尔兹曼常数；也可测量PN结电压与热力学温度的关系， 得到半导体PN结用作温度传感器的灵敏度S，并近似求得0K时硅材料的禁带宽度。

典型实验内容及数据

1. 室温下测量IF-Ube曲线：

2. 测量 Ube - T 曲线：

采用数字化实验时测得的数据

部件列表

BEM-5714    PN结特性和玻尔兹曼常数实验仪

BEM-5051    温控电源II

BEM-5052    PN结加热装置

BEM-5053    PN结样品探头

选配件

UI-5400    Capstone数据采集软件

PS-3211    无线电压传感器　【2】

包装清单

实验装置1套（见部件清单），电源线2根，红黑绿黄蓝导线 各1根，护套香蕉插头线红黑各1根，手册1本。