概述

目前，高校实验室和市场上的霍尔效应实验仪，核心的霍尔元件基本都是采用标准的工业芯片，而且大多是载流子迁移率比较大的N型半导体器件。这种封装好的霍尔元件在工业领域纵然是一种比较好的选择，但在教学中反而带来了较多的局限性。元件内部结构的封闭性，不利于学生对半导体霍尔效应本身的一些特性进行分析和研究。

BEX-8508C是一款与东南大学物理实验中心联合研制的新型霍尔效应实验仪，并获得第十二届全国高等学校物理实验仪器一等奖。仪器采用开放式、模块化和数字化设计，系统包含的一组N型和P型霍尔片、切换开关、转接电路板和线束全部采用开放式设计，便于观察信号链路和更换待测样品；系统中的电源组件、切换开关组件、电磁线圈组件和霍尔片组件均采用模块化设计，便于装调和组合使用；电源机箱上预留的励磁电流、工作电压和电流数字化接口，便于连接数字化采集仪器和处理软件，实现高效测量和分析。

特征

• 提供P型和N型两种硅基半导体霍尔片   

  

• 双掷开关可即时切换待测P型和N型霍尔片

  

• 全明接线，开放式霍尔片和刀闸组件

  

  
  

• 小于5mm的磁隙，提供大于500 mT的均匀磁场

  

• 开放式、模块化、数字化设计

实验内容

• 研究霍尔电压与霍尔片中工作电流的关系

• 研究霍尔电压与磁感应强度（电磁铁励磁电流）的关系

• 研究霍尔片不等位电势差对霍尔电压的影响和消除方法

• 判断半导体材料的载流子类型

• 研究P型和N型半导体材料的霍尔系数、载流子浓度、电导率和迁移率

部分实验数据

N型霍尔片

P型霍尔片

霍尔片电导率的测量