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BIM-6303 & 6314 & 6315 光学反射支架
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BIM-6303&BIM-6314 单双臂反射支架

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单双臂反射支架可用于固体和粉末样品材料多角度反射率的测量。单臂形态时主要用于固定Y型光纤探头,可测量光垂直入射的情况;双臂形态时主要用于固定两根石英光纤探头,可测量光不同角度入射的情况。单双臂形态可以方便地互相切换,具备高灵活性和强实用性。

产品特点

多功能:支持单臂或双臂反射应用

定位样品放置位置:适用于Φ40mm,Φ60mm,Φ80mm,Φ100mm直径的样品尺寸。

定位灵活   : 具有中心稳,多方向控制光纤入射和出射角度的特点。广泛应用于多角度测量。

技术参数

尺寸:Φ150mm×13mm


BIM-6315 倒置式反射支架

PIC_BIM-6315.jpg

倒置式反射支架更加适合于需要精确测量光谱反射率的场合。可以保持样品至反射光纤的距离和标准参比样品至反射光纤的距离精确相等。


兼容产品

SIM-6101&6102 石英光纤


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