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BIM-6320-01 余弦校正器
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仪器概述

余弦校正器是一种用于光谱辐射取样的光学元件,用于收集 180°立体角内的光,从而消除了其它取样装置中由于光收集取样几何结构限制所导致的光学耦合问题。

BIM-6320-01余弦校正器可以直接耦合 SMA905 接口,与光纤和光谱仪连接。有效直径3.9mm,采用进口PTFE材料,波长范围200~1100nm。可用于测量太阳辐射光、LED光、激光、环境光、以及对其它发光光源进行分析测试。


应用领域

测量UV-A和UV-B太阳辐射光、LED光、激光、环境光、以及对其它发光光源分析测试


仪器特点

  • 可收集180°视场角的光

  • 采用聚四氟乙烯漫射材料

  • 可方便与光纤进行耦合


技术参数


光谱范围200nm-1100nm
光学漫射器Spectralon
尺寸∅6.4×17.5mm
漫射器(直径)3.9mm
漫射器(厚度)1mm
视场角180°
接口SMA905
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